国際活動

2003年8月10日

  • 国際会議
  • 学会発表

[The 10th European Meeting on Ferroelectricity]

-Aug. 2003 Cambridge, UK-
■ Origin of the Retention Property of YMnO3 Based MFIS Capacitors.　　Norifumi Fujimura
■ D-E Measurements for Ferroelectric Gate Capacitors.　　Takeshi Yoshimura