お知らせ

特許が登録されました(特許第7854655号)

定量評価装置、定量評価プログラム、および学習モデル生成プログラム
発明者: 小川耕平, 堤親平, 上杉徳照, 中島智晴
出願人: 株式会社栗本鐵工所, 公立大学法人大阪
https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-2022-145517/10/ja
https://jglobal.jst.go.jp/detail?from=API&JGLOBAL_ID=202603004391623905