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磁場型質量分析
07_磁場型質量分析装置(日本電子株式会社)JMS-700(s)【購入年:H27,品田哲郎,理学部棟F118室】
セクタータンデム型の質量分析計イオン源: FAB, EI, CI
理学研究科
杉本キャンパス 理学部棟F118室
大阪公立大学 杉本キャンパス 研究推進課 研究基盤共用センター
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