35_分光光度計

分光光度計（日本分光：V-660）

計測 分析法

光学系 ダブルモノクロメータ
測定波長範囲 187～900 nm
試料形状 液体試料（石英セルに封入）、固体試料
特徴 汎用的な紫外可視光領域の分光測定

機器名 メーカー名 型番

35_分光光度計(日本分光株式会社)V-660【購入年:H24，米谷紀嗣，工学部B棟104室】

仕様 特徴

本装置は高感度タイプであり、紫外可視光領域で6 Abs.までの測光が可能

ダブルモノクロメータを採用しているため、迷光が極めて低く、極低濃度の試料溶液でも高感度で測定が可能です。

広い波長範囲で6 Abs.までの測定を実現しており、吸光度の大きい試料でも測定可能です。

【測定例】
溶液試料の吸光度測定、結晶等のバンドギャップ測定、カイネティクスプログラムを用いた反応速度の解析、光学フィルター等の性能評価、反射率測定による多層膜の解析

学内 利用料金設定

    • 本人測定：料金は別途お問い合わせください。

学外 利用料金設定

    • 学術指導：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。
    • 共同 受託研究：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。
管理部局

工学研究科

設置場所

杉本キャンパス 工学部B棟104室

問い合わせ先

大阪公立大学　杉本キャンパス　研究推進課　研究基盤共用センター