40_テラヘルツ分光装置

テラヘルツ分光装置（自作）

計測 分析法

光学系* 透過測定光学配置
測定範囲** 周波数：0.1～3 THz、波数：3.3～100 cm-1、波長：0.1～3 mm、エネルギー：0.48～14.4 meVa
スペクトル分解能*** 10 GHz
測定条件 常温、大気圧、測定光束断面：1～10 mm (1 THz)、直線偏光
試料形状
 固体試料(標準)
粉体、液体、気体試料（別途相談）
特徴 テラヘルツ時間領域分光法を採用。光学定数（誘電率、屈折率など）の複素成分を導出可能。

機器名 メーカー名 型番

40_テラヘルツ分光装置(自作)自作【購入年:H25，菜嶋茂喜，中百舌鳥 B7棟W122号室】

仕様 特徴

  • 反射型，全反射分光への切替えも可能（要相談）
  • 本装置は汎用タイプであるが、放射素子・レーザーの交換により7 THzまでの連続スペクトルの測定が可能。
  • 時間遅延の掃引条件の切替により、周波数分解能を1 GHz (0.033 cm-1)に変更することが可能。

ダイナミクレンジは1 THz付近で120 dB以上あり1 THzから離れると小さくなる。
測定結果（時間波形、FFTスペクトル、透過率スペクトル、位相差スペクトル、複素光学定数）をテキスト形式で保存可能。

【測定例】
半導体ウエハ、強誘電体結晶（セラミック）、非線形光学結晶、光学異方性のある固体材料、ポリマー系樹脂、透明導電膜などの固体材料の透過測定。織金網等の金属周期構造体やチロシンなどの粉体試料およびポリマー系発泡樹脂の透過測定。有機溶媒単体や混合溶液、水蒸気、アルコール系の気体の透過測定。

学内 利用料金設定

    • 本人測定：料金は別途お問い合わせください。

学外 利用料金設定

    • 学術指導：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。
    • 共同 受託研究：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。
管理部局

工学研究科

設置場所

中百舌鳥キャンパス B7棟W122号室

問い合わせ先

大阪公立大学　杉本キャンパス　研究推進課　研究基盤共用センター