研究設備(Facilities)
保有試験設備

半導体レーザー(Diode Laser)
波長可変半導体レーザー吸収分光法(Tunable Diode Lasor Absorption Spectroscopy, TDLAS)に使用する半導体レーザーを保有しています.

背景型シュリーレン法(Background Oriented Schlieren, BOS)
燃焼ガスの光学計測に使用する背景型シュリーレン法(BOS法)に使用する計測装置を保有しています.
(2025/11/26現在)


波長可変半導体レーザー吸収分光法(Tunable Diode Lasor Absorption Spectroscopy, TDLAS)に使用する半導体レーザーを保有しています.

燃焼ガスの光学計測に使用する背景型シュリーレン法(BOS法)に使用する計測装置を保有しています.
(2025/11/26現在)