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株式会社堀場製作所/XGT-9000
杉本キャンパス 工学部B棟 116E1室
前処理不要・非破壊で簡便に透過X線像、元素マッピングの撮像が高速に可能です。また高輝度であるためノイズを低減できます。画像解析ツールも充実しています。
管理者:共用研究機器センター
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