卓上型全反射蛍光X線分析装置

仕様 特徴

本装置は、全反射蛍光X線分析法（TXRF）を採用し、液体中や固体表面に存在する極微量元素をppbレベルで高感度に分析できる卓上型分析装置です。試料に対してすれすれにX線を入射することで、低バックグラウンドかつ高感度な測定を実現しています。簡便な前処理により微量試料の測定が可能であり、内標準物質を用いた定量分析にも対応しています。


【主な特徴】
・ppbレベルの高感度分析が可能
・液体および固体表面の極微量元素分析に対応
・簡便な試料前処理（滴下・乾燥）で測定可能
・内標準法による定量分析が容易
・卓上型で操作性・機動性に優れる


【仕様】
・測定可能元素：Al～U（試料による）
・試料形状：約10 µL（液体試料）
・検出限界：約0.8 ppb（※Cdは約2 ppb）
・特徴：微量液体および固体表面付着物の高感度分析


【測定用途・例】
・工場廃液中の微量元素（As、Se、Cdなど）の分析
・飲料（ワインなど）の成分分析
・固体表面の極微量付着物の評価


【機能・性能】
・600 W高出力X線源と新開発ミラーにより高強度・高感度測定を実現
・大面積SDD検出器を搭載
・Kα線を用いた高精度分析（Cdなどの測定に有効）
・入射角度変更により深さ方向分析（斜入射XRF）に対応


【その他の特長】
・少量試料（10～50 µL）で測定可能
・16試料オートサンプラーによる自動・連続測定が可能
・AC100V電源で稼働、分析ガス不要
・設置・運用が容易（特別な届出不要）


【従来機からの主な強化点】
・600 Wの高出力X線源により大幅な感度向上
・Cu励起で約10倍、Mo励起で最大100倍の感度向上
・広範囲元素（Z=30～41、44～49）の高効率励起が可能