分光光度計

分光光度計

分光光度計

メーカー名/型番

日本分光 V-660

設置場所

杉本キャンパス 工学部B棟104室

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仕様 特徴

本装置は、紫外可視光領域における高感度分光測定が可能な分光光度計です。ダブルモノクロメータを採用することで迷光を極めて低減し、極低濃度試料から高吸光度試料まで幅広い測定に対応します。最大6 Abs.までの測光が可能であり、広い波長範囲にわたる高精度な分析を実現します。
【主な特徴】 ・高感度測定（最大6 Abs.まで対応）
・ダブルモノクロメータによる低迷光設計
・低濃度～高吸光度試料まで幅広く対応
・紫外可視領域での汎用的な分光分析が可能

【測定例】
・溶液試料の吸光度測定
・結晶などのバンドギャップ測定
・反応速度解析（カイネティクス解析）
・光学フィルターの性能評価
・反射率測定による多層膜解析

【装置仕様】
・光学系：ダブルモノクロメータ
・測定波長範囲：187～900 nm
・試料形状：液体（石英セル）、固体試料

※学外利用の実施及び料金についてはお問合せ下さい。
※学内料金についてはお問合せください。

管理者：共用研究機器センター