11_低分子用単結晶X線解析装置

計測 分析法

低分子用単結晶X線解析

機器名 メーカー名 型番

11_低分子用単結晶X線解析装置(株式会社リガク) AFC11 with Saturn 724+【購入年:H24，宮原郁子，理学部棟F123室】

仕様 特徴

CCD System · イメージングプレート単結晶自動Ｘ線構造解析装置

学内 利用料金設定

• • 本人測定：料金は別途お問い合わせください。
  • 依頼分析：料金は別途お問い合わせください。

学外 利用料金設定

• • 本人測定：67,000円/1測定（標準測定）、26,800円/1測定（短時間測定)

　　※別途 原則初回は技術指導料（3,645円/時間）がかかります。

• • 依頼分析：78,000円/1測定（標準測定）31,200円/1測定（短時間測定）※データ解析：22,000円/1測定
    
  • 学術指導：費用は双方で協議の上、決定します。
  • 共同 受託研究：費用は双方で協議の上、決定します。

管理部局

理学研究科

設置場所

杉本キャンパス 理学部棟F123室

問い合わせ先

大阪公立大学　杉本キャンパス　研究推進課　研究基盤共用センター