32_X線分析顕微鏡

X線分析顕微鏡（堀場製作所：XGT-5000）

 XGT-5000 1

計測 分析法

測定可能元素 Na～U（ただし試料による）
空間分析能 最小φ10µm
試料形状 高さ：30mm以内
特徴 蛍光X線による元素分析能力、透過X線像、顕微鏡の観察能力の3つの機能をもつX線分析顕微鏡

機器名 メーカー名 型番

32_X線分析顕微鏡(株式会社堀場製作所)XGT-5000【購入年:R4，辻幸一，工学部B棟106W室】

仕様 特徴

    • 前処理不要
    • 大気中非破壊測定

    生体組織や鉱物の分析、半導体や電子部品関連の各種解析、品質管理など、幅広い分野での活用が可能です。
    特別な前処理なしに、試料の構成元素と内部構造の解析を同時に行うことができます。
    10µm の空間分解能をもつ高輝度マイクロビームを実現した独自のX線導管（XGT）を採用し、微小な試料でもマッピングが得られるなど、高精度な測定を可能にしています。
    主な特長は、元素マッピング像と透過X線像が同時に得られることや試料を選ばないことです。
    しかも大気中で非破壊測定が可能なので、貴重な試料や水分を含む試料などにも対応できます。

    1. 元素マッピング像と、透過X線像が同時に得られます。
    2. 試料の前処理なしに、大気中で非破壊・非汚染の測定が可能。
    3. 試料を選ばず、生体などでも分析可能。
    4. Na（ナトリウム）からU（ウラン）まで31元素を同時マッピング。
    5. 100mm×100mm のサンプルをそのまま分析可能。
    6. φ 10µm / φ 100µm の点分析、微小領域から広領域までの面分析に対応。

    【測定例1：研究開発】
    材料開発、バイオ試料解析 (植物、小動物などの生体組織、鉱物)

    【測定例2：品質管理 】
    異物分析、不良解析 (半導体パッケージ、電子部品)

    学内 利用料金設定

      • 本人測定：料金は別途問い合わせください。
      • 依頼分析：料金は別途問い合わせください。

    学外 利用料金設定

      • 本人測定：3,500円/時間　※別途 技術指導料（2,600円/時間）がかかります。　
      • 依頼分析：6,000円/時間
      • 学術指導：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。
      • 共同 受託研究：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。
    管理部局

    工学研究科

    設置場所

    杉本キャンパス 工学部B棟106W室

    問い合わせ先

    大阪公立大学　杉本キャンパス　研究推進課　研究基盤共用センター