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2025/02/23

柴原正和 准教授、生島一樹 准教授、OG沖見優衣さん、D2 加藤拓也 さん、OB河尻義貴さんらが
「残留応力低減方法及び残留応力低減装置」
に関する特許を取得しました。

発明の名称：残留応力低減方法及び残留応力低減装置
発明者：柴原正和、生島一樹、沖見優衣、吉田昇平、加藤拓也、河尻義貴
出願人：公立大学法人大阪
【特許番号】特許第7607913号(P7607913)
【登録日】令和6年12月20日(2024.12.20)
【出願番号】特願2021-33671(P2021-33671)
【出願日】令和3年3月3日(2021.3.3)
【国際出願番号】PCT/JP2022/010750
【公開番号】特開2022-134518 (P2022-134518A) 
【公開日】令和4年9月15日(2022.9.15)

詳細は以下の通りです。
特許情報プラットフォーム：
https://www.j-platpat.inpit.go.jp
のWebサイトにて「特許第7607913号」で検索して下さい。